そうさがたきんせつばこう‐けんびきょう〔ソウサガタキンセツバクワウケンビキヤウ〕【走査型近接場光顕微鏡】
走査型近接場光顕微鏡
出典: フリー百科事典『ウィキペディア（Wikipedia）』 (2023/08/14 07:46 UTC 版)
走査型近接場光顕微鏡（そうさがたきんせつばこうけんびきょう、英語: scanning near field optical microscopy; SNOM）は、近接場光という特殊な光を利用した走査型の顕微鏡のことである。しばしば NSOM（Near field scanning optical microscopy）とも呼ばれる。
- ^ Synge, EdwardH. "A suggested method for extending microscopic resolution into the ultra-microscopic region." The London, Edinburgh, and Dublin Philosophical Magazine and Journal of Science 6.35 (1928): 356-362.
- ^ Synge, Edward Hutchinson. "An application of piezo-electricity to microscopy." The London, Edinburgh, and Dublin Philosophical Magazine and Journal of Science 13.83 (1932): 297-300.
- ^ a b 鶴岡徹、「近接場光を用いた計測技術とその応用」『計測と制御』 2006年 45巻 2号 p.105-110, doi:10.11499/sicejl1962.45.105
- ^ a b 河田聡, 波多野洋、「近接場光学顕微鏡」『BME』 1997年 11巻 5号 p.3-11, doi:10.11239/jsmbe1987.11.5_3
- ^ Ash, E. A., and G. Nicholls. "Super-resolution aperture scanning microscope." Nature 237.5357 (1972): 510-512.
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- 1 走査型近接場光顕微鏡とは
- 2 走査型近接場光顕微鏡の概要
- 3 原理
- 4 特徴
- 5 関連項目
走査型近接場光顕微鏡（SNOM）
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「走査型プローブ顕微鏡」の記事における「走査型近接場光顕微鏡（SNOM）」の解説
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走査型近接場光顕微鏡
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「超解像顕微鏡法」の記事における「走査型近接場光顕微鏡」の解説
詳細は「走査型近接場光顕微鏡」を参照 走査型近接場光顕微鏡は近接場光を利用して光の回折限界を超える高解像度の画像を得る。
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