制限視野電子回折
出典: フリー百科事典『ウィキペディア（Wikipedia）』 (2017/05/30 15:24 UTC 版)
制限視野電子回折（Selected area (electron) diffraction、SAD、SAED）とは、結晶構造を調べる手法で、透過型電子顕微鏡（TEM）で用いられる。
- ^ David Muller Introduction to Electron Microscopy. p. 13
- ^ a b SAD. CIME. Retrieved on 2011-11-22.
- ^ Williams, David; Carter, C. (2009). Transmission Electron Microscopy: A Textbook For Materials Science. New York, USA: Springer. p. 35. ISBN 978-0-387-76500-6.
[続きの解説]
「制限視野電子回折」の続きの解説一覧
- 1 制限視野電子回折とは
- 2 制限視野電子回折の概要
- 制限視野電子回折のページへのリンク
