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走査電子顕微鏡基本用語集

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エイリアシング aliasing

SEM像の中にある構造周期が、画素大きさ走査線間隔近くなると、偽の周期として観察される現象SEM像の中の構造が、画素大きさ走査線間隔の2倍以上の周期を持っていない限り、偽の周期を生じてしまうので、構造に応じて高い倍率を選ぶ必要がある。また、低倍率像に記録された細かい構造をあとから拡大して観察する場合注意が必要である。下図は、周期Tの波形を、ほぼ1T/3と2T/3の周期観測したときの結果示しているが、2T/3では元の波形とは異な周期観測されている。
エイリアシング

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エイリアシング

出典: フリー百科事典『ウィキペディア(Wikipedia)』 (2010/11/30 12:42 UTC 版)

エイリアシング(aliasing)とは




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