透過電子顕微鏡基本用語集 |
 
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ウィークビーム法
【英】：weak-beam method
系統反射が起こる条件において、次数の高い反射、たとえば3次の反射が丁度ブラッグ反射を起こす条件で、弱く励起されている反射、たとえば1次の反射の暗視野を撮る方法。この方法で転位を観察すると、暗いバックグラウンドの中に転位による歪みの大きい部分（転位芯に近い部分）だけが明るいコントラストを与える。その結果、転位像はシャープになり、転位の位置がより正確にわかり、転位が拡張しているかいないかの判定の精度が上がる。
系統反射が起こる条件において、次数の高い反射、たとえば3次の反射が丁度ブラッグ反射を起こす条件で、弱く励起されている反射、たとえば1次の反射の暗視野を撮る方法。この方法で転位を観察すると、暗いバックグラウンドの中に転位による歪みの大きい部分（転位芯に近い部分）だけが明るいコントラストを与える。その結果、転位像はシャープになり、転位の位置がより正確にわかり、転位が拡張しているかいないかの判定の精度が上がる。
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