研磨用語集 |
EPMA
いー・ぴー・えむ・えー
Electron probe microanalysis の略語。電子ビーム照射に伴って放出される特性X線の波長と強度を計測して,試料表層中の元素組成を分析する方法である。走査を行うことにより、全元素の二次元的な分布を求めることが可能である。SEMの能力も兼ね備えている。
Electron probe microanalysis の略語。電子ビーム照射に伴って放出される特性X線の波長と強度を計測して,試料表層中の元素組成を分析する方法である。走査を行うことにより、全元素の二次元的な分布を求めることが可能である。SEMの能力も兼ね備えている。
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